|
|
|
содержание .. 84 85 86 87 ..
тенсивности (дифракционные макси- ми плоскостями волны будут находить- удовлетворяют формуле Вульфа — Брэггов т. е. при разности хода между двумя лу- При произвольном направлении па- дения монохроматического рентгено- вского излучения на кристалл дифрак- ном положении кристалла, для чего испускаемым рентгеновской трубкой. Тогда для та- ны волн X, удовлетворяющие условию Формула Вульфа — Брэггов исполь- зуется при решении двух важных за- 1. Наблюдая дифракцию рентгено- вского излучения известной длины тгеноструктурного анализа. Формула Вульфа остает- ся справедливой и при дифракции элек- дифракции электронов и нейтронов, называются соответственно электро- нографией и нейтронографией. 2. Наблюдая дифракцию рентгено- вского излучения неизвестной длины известном d измеряя мож- но найти длину волны падающего рен- рентгеновской спектро- скопии. § 183. Разрешающая способность оптических приборов Используя даже идеальную оптиче- скую систему (такую, для которой от- Изображение любой светящейся точки в монохроматическом свете представ- ляет собой дифракционную картину, виде центрального светлого пятна, ок- Согласно критерию Рэлея, изобра- жения двух близлежащих одинаковых и одинаковыми сим- метричными контурами разрешимы Рис. 268 343 |