Методы изучения высокодисперсных почвенных
минералов
Если исследования минералов крупных фракций почвы
успешно ведутся при помощи оптического микроскопа, то достижения в
изучении высокодисперсных почвенных минералов сделались возможными лишь
в последнее время в связи с огромными успехами физики, физико-химии и
приборостроения.
Выше уже отмечалось, что современные представления о составе и структуре
высокодисперсных вторичных минералов сформировались в результате применения
таких методов изучения, разработанных в последние десятилетия, как термический,
рентгенографический, электроннографический, электронно-микроскопический,
инфракрасной спектрометрии, применения радиоактивных изотопов наряду с
химическим методом изучения, неизменно сохраняющим свое значение. Роль этих
методов в изучении наиболее высокодисперсных почвенных частиц важна по двум
причинам: 1) эта фракция почвы, в основном состоящая из вторичных минералов,
была наименее изучена до последнего .времени и сведения о ней носили в большой
степени умозрительный характер и 2) эта фракция имеет особенно большое значение
в определении свойств почвы.
Кратко изложим основные принципы наиболее широко используемых методов (1 Для
изучения высокодисперсной фракции ее необходимо выделить, а это требует
предварительной подготовки. На методике подготовки образцов почвы к анализу мы
остановимся ниже, в главе о почвенных коллоидах.). Детально методы изучения
высокодисперсных минералов изложены Н. И. Горбуновым (1963), Р. Е. Гримом
(1959).
Термический анализ. (В России термический метод начал применяться с 1901 г. Н.
С. Курнаковым и его учениками в Петербургском политехническом институте.) При
нагревании минералов происходит удаление рыхлосвязанной и кристаллизационной
воды, разрушение кристаллов, образование новых минералов. Эти реакции
сопровождаются поглощением или выделением тепла. Температурные изменения
фиксируются при помощи термопары и записываются на фотобумаге лучом света,
отраженным от зеркального гальванометра. Полученные кривые линии называются
термограммами или кривыми нагревания. Прибор настраивают так, что при
эндотермических реакциях, протекающих с поглощением тепла, кривая отклоняется
вниз, а при экзотермических реакциях (с выделением тепла) — вверх от нулевой или
нормальной линии. Амплитуда отклонения кривой нагревания от нормальной линии
отражает разницу температур образца и печи и является показателем интенсивности
реакции.