33
кретным классом.
2. Использование более тонких срезов. При спиральном сканировании
сырые данные некоторое время остаются доступны для реконструкции по
ним дополнительных КТ-изображений срезов.
Артефакт затухания фотона проявляется в виде сильных полос в облас-
тях с плотными объектами. На рис. 13а полосы расположены горизонталь-
но, т.к. при таком распространении луча затухание сильнее и детекторов
достигает недостаточное количество фотонов. В результате под этим углом
получают зашумленные проекции, а реконструкция усиливает шум, что
приводит к горизонтальным полосам на изображении. Артефакт можно уст-
ранить путем увеличения тока на трубке, но в этом случае возрастает доза
обучения пациента. На спиральных КТ для устранения артефакта использу-
ется метод многомерной адаптивной фильтрации (рис. 13б). Для небольшо-
го количества данных, превышающих порог ослабления, сглаживание вы-
полняется между проекциями, выполненными под последовательными уг-
лами, тогда как Z-фильтр, используемый в спиральном сканировании, ис-
пользуется для проекций с большим ослаблением, чтобы в выполнении ре-
конструкции участвовало большее количество фотонов.
Рис. 13. Изображение с (а) и без (б) артефакта затухания фотона
Число проекций, используемых для реконструкции изображения в КТ
является одним из факторов, определяющих его качество. Слишком боль-
шой интервал между проекциями (подвыборка) даст потерю информации об
острых краях и малых объектах, что приведет к появлению артефакта под-
выборки (undersampling). Артефакт проявляется в виде тонких полос, отхо-
дящих от края плотной структуры и параллельных ее краям (рис. 14).
Рис. 14. Артефакт подвыборки
Артефакт подвыборки не оказывает серьезного влияния на диагностиче-
ское качество изображения, т.к. равномерно распределенные линии обычно
а
б
Удалено: <sp><sp>